TEC EUROLAB

Analisi tramite xps

XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy)
La tecnica X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) permette di caratterizzare la superficie  di un campione dal punto di vista composizionale, sia qualitativamente che quantitativamente,  fino ad una profondità di 10 nanometri  e consente di rilevare i legami chimici formati tra i diversi elementi presenti nello spettro (ossidazione, solfuri-solfati, …)

CAMPO DI APPLICAZIONE

  • ANALISI POLVERI E RELATIVI LEGAMI CHIMICI;
  • ANALISI DI TRATTAMENTI SUPERFICIALI;
  • ANALISI DI RIVESTIMENTI INFERIORI AL MICRON.

Sensibilità minima: 0,1%  in concentrazione di peso.
Dimensione campioni massima 1cm x 1cm x 1cm (sia solidi che polveri), difficilmente si riesce a fare analisi su campioni curvi.

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