X-RAY Photoelectron Spectroscopy (XPS)

XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy)
 
La tecnica X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) permette di caratterizzare la superficie  di un campione dal punto di vista composizionale, sia qualitativamente che quantitativamente,  fino ad una profondità di 10 nanometri  e consente di rilevare i legami chimici formati tra i diversi elementi presenti nello spettro (ossidazione, solfuri-solfati, …)
 
CAMPO DI APPLICAZIONE:
 
  • ANALISI POLVERI E RELATIVI LEGAMI CHIMICI;
  • ANALISI DI TRATTAMENTI SUPERFICIALI;
  • ANALISI DI RIVESTIMENTI INFERIORI AL MICRON.
 
Sensibilità minima: 0,1%  in concentrazione di peso.
 
Dimensione campioni massima 1cm x 1cm x 1cm (sia solidi che polveri), difficilmente si riesce a fare analisi su campioni curvi.
Accreditamenti Aster Accredia Accredia Accredia Tuv Nord Nadcap Crit
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