Analisi tramite SEM-FIB

Il SEM-FIB è un microscopio elettronico con risoluzione di 2nm che consente di scavare senza danneggiare la superficie di un campione e di guardarlo in sezione.
 
 CAMPO DI APPLICAZIONE:
 
  • RILIEVI DI SPESSORE PER RIVESTIMENTI INFERIORI AI 2-3 ΜM.
 
Dimensione campioni massima 2cm x 2cm x 1,5cm
Accreditamenti Aster Accredia Accredia Accredia Tuv Nord Nadcap Crit
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